產(chǎn)品列表
PROUCTS LIST
相關新聞
NEWS
產(chǎn)品中心Products 當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 常用探頭 > 質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
更新時間：2025-03-02
訪問量：1261
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品特點：質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT的詳細資料：
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
| 如果你對質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
